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  • 产品名称:耦合器加热用试验装置

  • 产品型号:HK1125
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简单介绍:
耦合器加热用试验装置GB17465.1-2009第18.2条、图13以及IEC60320-1第18.2条及图13的要求,耦合器加热用试验装置用于耦合器在热条件或酷热条件下的耐热性能测试;
详情介绍:

 耦合器加热用试验装置GB17465.118.2条、图13以及IEC60320-118.2条及图13的要求,用于耦合器在热条件或酷热条件下的耐热性能测试;

耦合器加热用试验装置技术参数:

1.耦合器加热用试验装置加热温度:RT常温~200℃;

2.耦合器加热用试验装置温度分辨率0.1℃,误差±1℃;

3.加热控制方式:温控表PID控制;

4.耦合器中心距:以Φ175的圆均布排列;

5.耦合器加热用试验装置计时器:19999h

6.试样温度探头类型:T型;

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粤公网安备 44049002000461号